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Description
Advances in Imaging and Electron Physics, Volume 229 merges two long-running serials, Advances in Electronics and Electron Physics and Advances in Optical and Electron Microscopy. Chapters in this release cover Characterization of nanomaterials properties using FE-TEM, Cold field-emission electron sources: From higher brightness to ultrafast beams, Every electron counts: Towards the development of aberration optimized and aberration corrected electron sources, and more. The series features articles on the physics of electron devices (especially semiconductor devices), particle optics at high and low energies, microlithography, image science, digital image processing, electromagnetic wave propagation, electron microscopy and the computing methods used in all these domains.Provides the authority and expertise of leading contributors from an international board of authorsPresents the latest release in the Advances in Imaging and Electron Physics series

Elsevier Science & Technology
Pages
232 pages
Collection
n.c
Parution
2024-03-29
Marque
Academic Press
EAN papier
9780443296482
EAN PDF
9780443296499
Informations sur l'ebook
Nombre pages copiables
23
Nombre pages imprimables
23
Taille du fichier
9011 Ko
Ce livre est accessible aux handicaps Voir les informations sur l'accessibilité
Prix
184,63 €
EAN EPUB SANS DRM
9780443296499
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